Καλωσορίστε για να επισκεφτείτε το θάλαμο #8934 BWT Πεκίνου στο ΖΩΝΤΑΝΌ ΟΝ EXPO το 2015, και το θάλαμο #934 στη δύση το 2015 Photonics, το περιεκτικότερο λέιζερ #1, το photonics, και τη βιοϊατρική διάσκεψη οπτικής κατά τη διάρκεια των 7-12 Φεβρουαρίου 2015.
Τεχνικές εργασίες που παρουσιάζονται από BWT Πεκίνο στο LASE - υψηλής ισχύος τεχνολογία λέιζερ και εφαρμογές ΧΙΙΙ διόδων (διάσκεψη 9348):
Σύνοδος 5: Αξιοπιστία συσκευών υψηλής δύναμης
Ημερομηνία: Δευτέρα, στις 9 Φεβρουαρίου 2015
Χρόνος: 8:00 AM - 8:20 AM
Έγγραφο 9348-19: Μελέτη αξιοπιστίας των υψηλών λέιζερ διόδων εκπομπών φωτεινότητας πολλαπλάσιων ενιαίων
Παρουσιαστής: Thomas Yang
Υψηλές αντλίες φωτεινότητας βασισμένες στα πολλαπλάσια ενιαία σημαντικά πλεονεκτήματα προσφοράς εκπομπών στη θερμικές διαχείριση και την αξιοπιστία για την άντληση των υψηλής ισχύος λέιζερ ινών. Η διάρκεια ζωής των υψηλών λέιζερ αντλιών φωτεινότητας είναι από τα τσιπ διόδων λέιζερ και τις συσκευασίες πολυ-εκπομπών. Σε αυτήν την μελέτη, βελτιστοποιήσαμε τις συνδέοντας διαδικασίες τσιπ για τα διάφορα τσιπ συμπεριλαμβανομένου 9xxnm 10W-20W, τύποι 1470nm 6W που ήταν από τους διάφορους προμηθευτές σε όλο τον κόσμο, και επιτύχαμε τις κατάλληλες συνδέοντας διαδικασίες τσιπ για να παραγάγουμε τη υψηλή επίδοση και αξιόπιστος τσιπ-επάνω. Κατόπιν, σε αυτό το έγγραφο, μια σειρά επιταχυνόμενων δοκιμών ζωής εκτελέσθηκε στον εκπομπό 2 σε 7 συσκευασίες εκπομπών με τις συνδεμένες ίνα ενότητες 9xxnm/105um. MTTF αυτών των ενοτήτων υπερβαίνει τις ώρες 100k. Τέλος, παρουσιάζουμε μια χωριστή μελέτη αξιοπιστίας για σταθεροποιημένη τη μήκος κύματος συνδεμένη ίνα δίοδο 976nm.
Καλωσορίστε για να επισκεφτείτε το θάλαμο #8934 BWT Πεκίνου στο ΖΩΝΤΑΝΌ ΟΝ EXPO το 2015, και το θάλαμο #934 στη δύση το 2015 Photonics, το περιεκτικότερο λέιζερ #1, το photonics, και τη βιοϊατρική διάσκεψη οπτικής κατά τη διάρκεια των 7-12 Φεβρουαρίου 2015.
Τεχνικές εργασίες που παρουσιάζονται από BWT Πεκίνο στο LASE - υψηλής ισχύος τεχνολογία λέιζερ και εφαρμογές ΧΙΙΙ διόδων (διάσκεψη 9348):
Σύνοδος 5: Αξιοπιστία συσκευών υψηλής δύναμης
Ημερομηνία: Δευτέρα, στις 9 Φεβρουαρίου 2015
Χρόνος: 8:00 AM - 8:20 AM
Έγγραφο 9348-19: Μελέτη αξιοπιστίας των υψηλών λέιζερ διόδων εκπομπών φωτεινότητας πολλαπλάσιων ενιαίων
Παρουσιαστής: Thomas Yang
Υψηλές αντλίες φωτεινότητας βασισμένες στα πολλαπλάσια ενιαία σημαντικά πλεονεκτήματα προσφοράς εκπομπών στη θερμικές διαχείριση και την αξιοπιστία για την άντληση των υψηλής ισχύος λέιζερ ινών. Η διάρκεια ζωής των υψηλών λέιζερ αντλιών φωτεινότητας είναι από τα τσιπ διόδων λέιζερ και τις συσκευασίες πολυ-εκπομπών. Σε αυτήν την μελέτη, βελτιστοποιήσαμε τις συνδέοντας διαδικασίες τσιπ για τα διάφορα τσιπ συμπεριλαμβανομένου 9xxnm 10W-20W, τύποι 1470nm 6W που ήταν από τους διάφορους προμηθευτές σε όλο τον κόσμο, και επιτύχαμε τις κατάλληλες συνδέοντας διαδικασίες τσιπ για να παραγάγουμε τη υψηλή επίδοση και αξιόπιστος τσιπ-επάνω. Κατόπιν, σε αυτό το έγγραφο, μια σειρά επιταχυνόμενων δοκιμών ζωής εκτελέσθηκε στον εκπομπό 2 σε 7 συσκευασίες εκπομπών με τις συνδεμένες ίνα ενότητες 9xxnm/105um. MTTF αυτών των ενοτήτων υπερβαίνει τις ώρες 100k. Τέλος, παρουσιάζουμε μια χωριστή μελέτη αξιοπιστίας για σταθεροποιημένη τη μήκος κύματος συνδεμένη ίνα δίοδο 976nm.
